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2019年11月9日至10日，中國顆粒學會顆粒測試專委會主辦的第十二屆顆粒測試學術會議在杭州西子湖畔的贊成賓館隆重舉行。此次會議匯集了來自各地百余名顆粒學界的、顆粒表征儀器制造與銷售企業(yè)的代表以及顆粒表征儀器使用單位的代表，展示與探討顆粒表征科學與技術的新進展、新產品和新應用。會議現(xiàn)場氣氛熱烈，座無虛席。
顆粒界的資深學者和企業(yè)家，珠海真理光學儀器有限公司董事長、天津大學兼職教授張福根博士應邀出席，并做了學術報告。題目是：“粉體（）大顆粒的科學表征方法探討”。報告從邏輯上論證了真實的大粒本質上是不可測的。提出了顆粒表征科學的新名詞：視場內大粒（Biggest Particle in Viewing Field，縮寫為“BPVF”），意指進入粒度測量儀器有效傳感范圍的顆粒中的大粒。指出當前話語體系中所謂的大粒，就是指視場內大粒（BPVF）。目前市面行的能測BPVF的粒度儀包括：電阻法顆粒計數(shù)器、顆粒圖像處理儀、沉降法粒度儀以及其他的計數(shù)型粒度儀。張博士在報告論證：激光粒度儀不能測BPVF，當然更不能表征被測樣品真實的大粒。他特別提醒，如果用激光粒度測試報告中的D100（或dmax, d(1.0, v)等等）作為大粒，有可能給用戶帶來嚴重后果。在報告的后，張博士提出一個用以表征粉體樣品中大粒含量的新單位：PPT（>dc）, 意指每一萬億（1012 ）個顆粒中所包含的粒徑大于某特征粒徑dc的顆粒個數(shù)，同時提出了原理性的測量方法。在提問環(huán)節(jié)，鄭州磨料磨具磨削研究所測試中心的原工程師、鄭州建斌電子科技有限公司總經理周波激動地表示：關于大粒的定義以及激光粒度儀在測量大粒上的局限性在磨料磨具行業(yè)一致存在疑惑，張博士能從理論的角度闡釋得如此清晰，對磨料行業(yè)的粒度測試應用具有非常實際的指導意義，希望張博士能給磨料磨具行業(yè)做專題講座。。
在本次會議上，張博士指導的天津大學碩士研究生張晨雨做了題為“利用散射光的偏振差異測量顆粒折射率”的學術報告。該課題旨在解決利用激光粒度儀測量粒度分布時需要輸入被測樣品的折射率，而折射率的數(shù)值又難以獲得的問題。該報告提出了一種利用激光粒度儀在粒度測量過程中獲得的被測樣品的散射光信號分析計算樣品折射率的新方法，理論嚴謹、實驗可靠。該報告榮獲大會論文獎。
真理光學的經營理念是“科學態(tài)度，工匠精神，成就顆粒儀器”。在本次會議報告上的兩個兼具科學與技術價值的兩項研究都是在真理光學完成的，展現(xiàn)了真理光學對顆粒表征科學的不懈追求。
以下是來自會議現(xiàn)場的部分圖片分享：
上圖為張福根博士在會上做報告
上圖為大會論文者（右三是天津大學學生張晨雨）
上圖是會議代表大合影
以上為本次會議全部分享。了解更多顆粒測試資訊，可關注【真理光學】公眾號。
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